產(chǎn)品型號：HCWP-1000

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-06-11

產(chǎn)品簡介：

儀器簡介：

 華測儀器-高溫介電溫譜測試儀主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)性能測試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體，可 測試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜 Co-Co 圖， 機(jī)電耦合系數(shù)等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率，時間變化的曲線，測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。

 華測儀器-高溫介電溫譜測試儀它由硬件設(shè)備和測量軟件組成，包括高溫介電測量儀主機(jī)、高溫介電測量系統(tǒng)軟件、高溫測試夾具、阻抗分析儀四個組成部分。根據(jù)測量需要，還可以外接真空油泵進(jìn)行真空環(huán)境的介電測量。

系統(tǒng)介紹：

系統(tǒng)配置：Acer商用計算機(jī)，信號切換與控制系統(tǒng)，高溫儀及溫控系統(tǒng)，四通道夾具， 測試與數(shù)據(jù)采集軟件；

輸入端口：四個BNC端口；

輸出端口：10個SMA輸出端口，需采用SMA接頭以提高高頻測試穩(wěn)定性（頻率大于1MHz時）；

溫度范圍：室溫 至850℃（額定溫區(qū)，長時間使用溫度），室溫 至1000℃（極限溫區(qū)，短時間使用）；

系統(tǒng)屏蔽：通道切換主板預(yù)埋屏蔽層設(shè)計，連接線材采用射頻同軸線，以保證低頻與高頻測試精度和穩(wěn)定性；

測試夾具：融石英與探針復(fù)合夾具。其中探針需使用氧化鋁與鉑金復(fù)合結(jié)構(gòu)，芯層為鉑金，絕緣層為氧化鋁，屏蔽層為鉑金并屏蔽至樣品端。以保證長期高溫測試穩(wěn)定性；

同時測量樣品數(shù)：4個；

測試頻率范圍：20Hz至10 MHz(依據(jù)配套LCR表或阻抗分析儀頻率)，基本度0.05%；

升溫速率：升溫速率0.1-10℃/min，測溫精度±0.1℃

測試樣品直徑：2 mm至25 mm；

樣品厚度：0.02 mm至4 mm；

單樣品測試頻率數(shù)：少6個頻率測量功能；

變溫介電頻譜測試功能；

變溫阻抗測試功能。