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高溫四探針測試儀的功能優(yōu)勢及應(yīng)用范圍

日期:2020-12-07瀏覽:1459次

   一、高溫四探針測試儀的功能優(yōu)勢及應(yīng)用范圍:
  1、高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。
  2、本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。采用高的精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,配備標準英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表。
  3、本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
  4、整體為桌面型設(shè)計,采用紅外燈加熱,無保溫爐膛結(jié)構(gòu),滿足實驗室無灰塵排放的要求。
  5、內(nèi)置工控機、觸摸屏,可以利用工控機設(shè)定加熱曲線,并實現(xiàn)和其他測試設(shè)備的集成控。
  6、多功能真空加熱爐,一體爐膛設(shè)計、可實現(xiàn)、高溫、真空、氣氛環(huán)境下進行測試。
  7、采用鉑材料作為導(dǎo)線、以減少信號衰減、提高測試精度。
  8、可以測量半導(dǎo)體薄膜材、薄片材料的方塊電阻、電阻率。
  9、采用雙電測組合測量模式,不用進行系數(shù)修正。
  10、可以測量高溫、真空、氣氛條件下薄膜方塊電阻和薄層電阻率。
  11、可以分析方塊電阻和電阻率隨溫度變化的曲線。
  12、可以自動調(diào)節(jié)施加在樣品的測試電壓,以防樣品擊穿。
  總結(jié):高溫四探針測試儀的功能優(yōu)勢及應(yīng)用范圍小編就分享到這里,看完本文您就應(yīng)該有了基本的認識和了解相信大家都明白了吧!總的來說,希望對大家有所幫助。

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