1、本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。

　　2、四探針軟件測試系統(tǒng)是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序，通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析。

　　3、具備彈性的自定義功能，可進行電壓、電流、溫度、時間等設(shè)置，符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。高的精度的輸出與測量規(guī)格，保障檢測結(jié)果的品質(zhì)，適用于新材料數(shù)據(jù)的檢測。

　　4、測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析，然后把測試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。

　　5、用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析。

　　二：高溫四探針測試儀的特點：

　　1、采用雙電測組合測量模式，不用進行系數(shù)修正。

　　2、可以測量高溫、真空、氣氛條件下薄膜方塊電阻和薄層電阻率。

　　3、可以分析方塊電阻和電阻率隨溫度變化的曲線。

　　4、可以自動調(diào)節(jié)施加在樣品的測試電壓，以防樣品擊穿。

　　5、高耐磨碳化鎢探針探頭，測量硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻。

　　6、球形鍍金銅合金探針探頭，測量柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。

　　7、配合四端子測試夾具，測量電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻。

　　8、探頭可測試電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。

　　總結(jié)：高溫四探針測試儀的應用及特點小編就知道這么多，看完本文您就應該有了基本的認識和了解相信大家都明白了吧！總的來說，希望對大家有所幫助。