鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用領(lǐng)域:
1.電介質(zhì)材料的各類電學(xué)性能,例如無(wú)機(jī)電介質(zhì)材料、有機(jī)高分子聚合物材料等
2.測(cè)試環(huán)狀固體材料在不同頻率下的磁導(dǎo)率(Permeability)及損耗正切值(Losstangent)。
鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試項(xiàng)目:
1.測(cè)試片狀固體材料在不同頻率下的阻抗(Impendence)、導(dǎo)納(Admittance)、相位(Phase)、電阻(Resistance)、電抗(Reactance)、電感(Inductance)、電容(Capacitance)、電導(dǎo)(Conductance)、電納(Susceptance)、品質(zhì)因數(shù)(Qualityfactor)、耗散因子(Dissipationfactor)等性能;
2.測(cè)試環(huán)狀固體材料在不同頻率下的磁導(dǎo)率(Permeability)及損耗正切值(Losstangent)。
鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)是一臺(tái)的測(cè)試儀,它綜合了頻率響應(yīng)、電壓范圍和精度于一體。系統(tǒng)配有一個(gè)快速的遲滯額定頻率250kHz的+ / - 10v, 使得薄膜和散裝陶瓷的測(cè)試變得快速和簡(jiǎn)單。
鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)無(wú)需改變測(cè)試樣品的連接,即可實(shí)現(xiàn)滯回,脈沖,漏電,IC,IV的測(cè)試。配備額外的模塊,可實(shí)現(xiàn)熱釋電性能、磁電特性、晶體管特性、低溫性能、塊體陶瓷和/或薄膜壓電性能的測(cè)試。