本
鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)用于鐵電體的鐵電性能測(cè)量,可用于鐵電體的研究,也可作為近代物理實(shí)驗(yàn)中的固體物理實(shí)驗(yàn)設(shè)備,同時(shí)可作為工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲(chǔ)器的鐵電性能檢測(cè)設(shè)備。該
鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流Ik等參數(shù),還可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試。能夠較測(cè)量鐵電薄膜的鐵電性能。該系統(tǒng)配鐵電高壓模塊和鐵電高壓驅(qū)動(dòng)模塊,可測(cè)量陶瓷材料的鐵電性能。
鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)采用一體化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡(jiǎn)單方便。本鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)采用虛地模式測(cè)量電路,與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于儀器內(nèi)部的器件精度,比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量度。
鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)的主要特點(diǎn):
1.超晶格材料在方波脈沖電壓激勵(lì)下的自漏電特性
2.測(cè)量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時(shí)的電流響應(yīng)
3.鐵電材料的電滯回線(動(dòng)態(tài)與靜態(tài))、漏電流、壓電等特性
4.在操作條件下記錄單元對(duì)電容測(cè)試芯片直接存取的仿真
5.測(cè)量小信號(hào)材料的壓電系數(shù)與介電常數(shù)
6.可與原子力顯微鏡聯(lián)用,對(duì)微區(qū)或Nanoscale的鐵電、壓電性能進(jìn)行測(cè)試