為了提高
鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)的集成度、重復(fù)性和極化安全性,介紹自行開(kāi)發(fā)的多功能鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)與設(shè)計(jì)原則和思路,主要包括極化裝置的設(shè)計(jì)與加工、積分放大電路的設(shè)計(jì)、硬件之間的連接、分析軟件的編寫(xiě)、軟硬件之間的通訊等。實(shí)現(xiàn)在不同溫度點(diǎn)下,封閉式安全極化及電滯回線(xiàn)的數(shù)據(jù)采集與處理。*中檔產(chǎn)品的空白,造價(jià)是設(shè)備的1/3,但精度相當(dāng)。
主要特點(diǎn)
1.超晶格材料在方波脈沖電壓激勵(lì)下的自漏電特性
2.測(cè)量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時(shí)的電流響應(yīng)
3.鐵電材料的電滯回線(xiàn)(動(dòng)態(tài)與靜態(tài))、漏電流、壓電等特性
4.在操作條件下記錄單元對(duì)電容測(cè)試芯片直接存取的仿真
5.測(cè)量小信號(hào)材料的壓電系數(shù)與介電常數(shù)
6.可與原子力顯微鏡聯(lián)用,對(duì)微區(qū)或Nanoscale的鐵電、壓電性能進(jìn)行測(cè)試 儀器介紹 德國(guó)aixACCT公司生產(chǎn)的TF Analyzer 2000鐵電分析儀是世界上的電子材料電特性參數(shù)測(cè)量?jī)x器。該儀器為*模塊化設(shè)計(jì),不同的模塊對(duì)應(yīng)不同的電特性測(cè)量方式,如:DRAM模塊可研究超晶格材料在方波脈沖電壓激勵(lì)下的自漏電特性; RELAXATION模塊可測(cè)量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時(shí)的電流響應(yīng); FERROELECTRIC HYSTERESIS模塊測(cè)試鐵電材料的電滯回線(xiàn)(動(dòng)態(tài)與靜態(tài))、漏電流、壓電等特性; PULSE SWITCHING模塊提供在操作條件下記錄單元對(duì)電容測(cè)試芯片直接存取的仿真。